Microscopía de Rayos X: Una nueva herramienta de imagen tridimensional a alta resolución
Fecha: 18 de Diciembre 2014
Lugar: Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE)
Calle Américo Vespucio s/n, esquina Leonardo da Vinci
Hora: 11:00 a 12:00
Moderador: Joaquín Ceballos, coordinador de laboratorios del
Instituto de Microelectrónica
Ponente: David Jiménez, Especialista en Microscopía Electrónica y
Nanotecnología. ZEISS Iberia, División Microscopía
No existen noticias en esta lista.
No existen noticias en esta lista.