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Microscopía de Rayos X: Una nueva herramienta de imagen tridimensional a alta resolución

Instituto de Microelectrónica de Sevilla

Microscopía de Rayos X: Una nueva herramienta de imagen tridimensional a alta resolución

Fecha: 18 de Diciembre 2014
Lugar: Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE)
Calle Américo Vespucio s/n, esquina Leonardo da Vinci
Hora: 11:00 a 12:00

Moderador: Joaquín Ceballos, coordinador de laboratorios del
Instituto de Microelectrónica

Ponente: David Jiménez, Especialista en Microscopía Electrónica y
Nanotecnología. ZEISS Iberia, División Microscopía

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