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Presentación del Microscopio 3D Color Metrológico

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Presentación-Demo del Microscopio 3D Color Metrológico

Este sistema metrológico permite obtener imagenes en colores reales de superficies sub-microscópicas altamente irregulares. Constituiye una valiosa y versátil alternativa a los sistemas AFM, SEM y CMM, con una buena relación calidad-precio.

Características:

- Óptica simplificada, gracias al exclusivo sistema patentado "Z-Dot Focus Map Technology"

- Amplio rango dinámico, que permite medir muestras con reflectividad muy alta o muy baja

- Disponible en dos versiones, con autostage (Zeta-200) y sin él (Zeta-20) bajos costes de mantenimiento

Lugar de la presentación: Sala de Juntas del ICMS

Fecha y hora: Jueves, 14 de julio de 2011 - 11:00 h.

Duración: 60 minutos

Persona que imparte el seminario: Vamsi Velidandla (Zeta Instruments)

Contacto e información adicional: davidpping@iridapong.es / infoping@iridapong.es

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